科研级微分干涉显微镜WYJ-4XDIC适用于金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数：50-800X。

型号：WYJ-4XDIC

更新日期：2024-06-28

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